- Ближнепольная оптическая микроскопия

Презентация "Ближнепольная оптическая микроскопия" – проект, доклад

Слайд 1
Слайд 2
Слайд 3
Слайд 4
Слайд 5
Слайд 6
Слайд 7
Слайд 8
Слайд 9
Слайд 10
Слайд 11
Слайд 12
Слайд 13
Слайд 14
Слайд 15
Слайд 16
Слайд 17
Слайд 18

Презентацию на тему "Ближнепольная оптическая микроскопия" можно скачать абсолютно бесплатно на нашем сайте. Предмет проекта: Разные. Красочные слайды и иллюстрации помогут вам заинтересовать своих одноклассников или аудиторию. Для просмотра содержимого воспользуйтесь плеером, или если вы хотите скачать доклад - нажмите на соответствующий текст под плеером. Презентация содержит 18 слайд(ов).

Слайды презентации

Ближнепольная оптическая микроскопия. Выполнила: студентка 3 курса, физического факультета, Тимаева А.О.
Слайд 1

Ближнепольная оптическая микроскопия

Выполнила: студентка 3 курса, физического факультета, Тимаева А.О.

Идея БОМа была предложена в 1928 году Сингом (E.H. Synge), но она намного опередила технические возможности своего времени и осталась практически не замеченной. Ее первое подтверждение было получено Эшем (E.A. Ash) в опытах с микроволнами в 1972 году. В начале 80-х годов группа исследователей из Цюр
Слайд 2

Идея БОМа была предложена в 1928 году Сингом (E.H. Synge), но она намного опередила технические возможности своего времени и осталась практически не замеченной. Ее первое подтверждение было получено Эшем (E.A. Ash) в опытах с микроволнами в 1972 году. В начале 80-х годов группа исследователей из Цюрихской лаборатории фирмы IBM во главе с Дитером Полем (D.W. Pohl) проникла внутрь дифракционного предела и продемонстрировала на приборе, работающем в видимом оптическом диапазоне и получившем название сканирующего оптического микроскопа ближнего поля.

Изобретение

Прохождение света через отверстие в экране с субволновой апертурой. Электромагнитное поле в области диафрагмы имеет сложную структуру. Непосредственно за отверстием на расстояниях Z < 100а располагается так называемая ближняя зона, в которой электромагнитное поле существует, в основном, в виде эв
Слайд 3

Прохождение света через отверстие в экране с субволновой апертурой.

Электромагнитное поле в области диафрагмы имеет сложную структуру. Непосредственно за отверстием на расстояниях Z < 100а располагается так называемая ближняя зона, в которой электромагнитное поле существует, в основном, в виде эванесцентных мод.

В области расстояний Z > 100a располагается дальняя зона, в которой наблюдаются лишь излучательные моды.

Мощность излучения за субволновой диафрагмой в дальней зоне может быть оценена по следующей формуле: Таким образом, ближнепольное изображение формируется при сканировании исследуемого образца диафрагмой с субволновым отверстием и регистрируется в виде распределения интенсивности оптического излучени
Слайд 4

Мощность излучения за субволновой диафрагмой в дальней зоне может быть оценена по следующей формуле:

Таким образом, ближнепольное изображение формируется при сканировании исследуемого образца диафрагмой с субволновым отверстием и регистрируется в виде распределения интенсивности оптического излучения в зависимости от положения диафрагмы I( x, y ) .

БОМ изображение алюминиевой пленки, нанесенной на поверхность подложки, состоящей из плотнейшей упаковки наноразмерных шариков латекса.
Слайд 5

БОМ изображение алюминиевой пленки, нанесенной на поверхность подложки, состоящей из плотнейшей упаковки наноразмерных шариков латекса.

Виды зондов. 1 Зонды БОМ на основе оптического волокна
Слайд 6

Виды зондов

1 Зонды БОМ на основе оптического волокна

Изготовление БОМ зондов на основе оптического волокна: (а) –химическое травление волокна; (б) – вид кончика волокна после травления; (в) – напыление тонкой пленки металла.
Слайд 7

Изготовление БОМ зондов на основе оптического волокна: (а) –химическое травление волокна; (б) – вид кончика волокна после травления; (в) – напыление тонкой пленки металла.

"Shear-force" метод контроля расстояния зонд-поверхность в ближнепольном оптическом микроскопе.
Слайд 8

"Shear-force" метод контроля расстояния зонд-поверхность в ближнепольном оптическом микроскопе.

При сближении зонда и образца наблюдаются несколько эффектов. Во-первых, появляется дополнительное диссипативное взаимодействие зонда с поверхностью за счет сил вязкого трения. Во-вторых, при малых расстояниях зонд-поверхность происходит изменение моды колебаний в системе зонд – резонатор. В свободн
Слайд 9

При сближении зонда и образца наблюдаются несколько эффектов. Во-первых, появляется дополнительное диссипативное взаимодействие зонда с поверхностью за счет сил вязкого трения

Во-вторых, при малых расстояниях зонд-поверхность происходит изменение моды колебаний в системе зонд – резонатор. В свободном состоянии мода колебаний соответствует колебаниям стержня со свободным концом, а при сближении с образцом (в пределе при касании зонда поверхности) переходит в колебания стержня с закрепленным концом.

2.	Наиболее перспективным и широко распространенным является зонд на основе адиабатически суженного одномодового оптического волокна, покрытого тонкой металлической пленкой и имеющего малую апертуру на его острие.
Слайд 10

2. Наиболее перспективным и широко распространенным является зонд на основе адиабатически суженного одномодового оптического волокна, покрытого тонкой металлической пленкой и имеющего малую апертуру на его острие.

3.	Другой вариант зонда СБОМ, используемый в настоящее время, изготавливается на основе кремниевого кантилевера (конструкция микромеханического зонда) для АСМ.
Слайд 11

3. Другой вариант зонда СБОМ, используемый в настоящее время, изготавливается на основе кремниевого кантилевера (конструкция микромеханического зонда) для АСМ.

Устройство БОМ
Слайд 12

Устройство БОМ

Конфигурации БОМ
Слайд 13

Конфигурации БОМ

“Shear force” АСМ изображение рельефа поверхности (слева) и ближнепольное оптическое изображение (справа) образца с квантовыми точками InAs
Слайд 14

“Shear force” АСМ изображение рельефа поверхности (слева) и ближнепольное оптическое изображение (справа) образца с квантовыми точками InAs

возбуждение структуры и прием ближнепольного излучения осуществляются через зонд микроскопа. Схема БОМ, в котором засветка образца и прием излучения осуществляются с помощью одного и того же зонда. Такое совмещение ближнепольного источника с ближнепольным приемником является весьма многообещающим ме
Слайд 15

возбуждение структуры и прием ближнепольного излучения осуществляются через зонд микроскопа

Схема БОМ, в котором засветка образца и прием излучения осуществляются с помощью одного и того же зонда

Такое совмещение ближнепольного источника с ближнепольным приемником является весьма многообещающим методом, обеспечивающим очень высокое пространственное разрешение. Однако в данной схеме излучение дважды проходит через субволновое отверстие. Это приводит к тому, что приходящий на фотоприемник сигнал имеет очень низкую интенсивность, и требуются высокочувствительные методы его регистрации.

Применение. Возможность улучшения на порядок и более локальности оптических методов исследования поверхности весьма существенна при решении широкого круга научных и прикладных задач. - гетероструктуры с квантово-размерными свойствами. - биологические исследования. - наноэлектроника
Слайд 16

Применение

Возможность улучшения на порядок и более локальности оптических методов исследования поверхности весьма существенна при решении широкого круга научных и прикладных задач.

- гетероструктуры с квантово-размерными свойствами

- биологические исследования.

- наноэлектроника

Существенное увеличение энергетической эффективности ближнепольных зондов является одной из важнейших научно-технических проблем нано оптики. Один из интересных путей ее решения заключается в использовании металлического стержневого зонда, подвод излучения к вершине которого осуществляется за счет в
Слайд 17

Существенное увеличение энергетической эффективности ближнепольных зондов является одной из важнейших научно-технических проблем нано оптики. Один из интересных путей ее решения заключается в использовании металлического стержневого зонда, подвод излучения к вершине которого осуществляется за счет возбуждения цилиндрической поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). При этом отпадают трудности, вызванные отсечкой поля в заостренном кварцевом волоконном зонде и как следствие - большими потерями энергии. Анализ показывает, что поле ПЭВ у вершины зонда сконцентрировано в области, соизмеримой с ее диаметром.

Проблема бом

Спасибо за внимание
Слайд 18

Спасибо за внимание

Советы как сделать хороший доклад презентации или проекта

  1. Постарайтесь вовлечь аудиторию в рассказ, настройте взаимодействие с аудиторией с помощью наводящих вопросов, игровой части, не бойтесь пошутить и искренне улыбнуться (где это уместно).
  2. Старайтесь объяснять слайд своими словами, добавлять дополнительные интересные факты, не нужно просто читать информацию со слайдов, ее аудитория может прочитать и сама.
  3. Не нужно перегружать слайды Вашего проекта текстовыми блоками, больше иллюстраций и минимум текста позволят лучше донести информацию и привлечь внимание. На слайде должна быть только ключевая информация, остальное лучше рассказать слушателям устно.
  4. Текст должен быть хорошо читаемым, иначе аудитория не сможет увидеть подаваемую информацию, будет сильно отвлекаться от рассказа, пытаясь хоть что-то разобрать, или вовсе утратит весь интерес. Для этого нужно правильно подобрать шрифт, учитывая, где и как будет происходить трансляция презентации, а также правильно подобрать сочетание фона и текста.
  5. Важно провести репетицию Вашего доклада, продумать, как Вы поздороваетесь с аудиторией, что скажете первым, как закончите презентацию. Все приходит с опытом.
  6. Правильно подберите наряд, т.к. одежда докладчика также играет большую роль в восприятии его выступления.
  7. Старайтесь говорить уверенно, плавно и связно.
  8. Старайтесь получить удовольствие от выступления, тогда Вы сможете быть более непринужденным и будете меньше волноваться.

Информация о презентации

Ваша оценка: Оцените презентацию по шкале от 1 до 5 баллов
Дата добавления:5 октября 2019
Категория:Разные
Содержит:18 слайд(ов)
Поделись с друзьями:
Скачать презентацию
Смотреть советы по подготовке презентации